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通知公告

300kV單球差校正透射電子顯微鏡(JEM-ARM300F2)試運(yùn)行公告

發(fā)布單位: 科研公共服務(wù)條件平臺(tái)

發(fā)布時(shí)間:2025-11-25

武漢大學(xué)科研公共服務(wù)條件平臺(tái)300kV單球差校正透射電子顯微鏡(JEM-ARM300F2)已經(jīng)安裝調(diào)試完成,即日起對(duì)校內(nèi)開(kāi)放試運(yùn)行,歡迎校內(nèi)師生預(yù)約測(cè)試!

儀器參數(shù)配置:

型號(hào):JEM-ARM300F2(GRAND ARM2)

燈絲類(lèi)型:冷場(chǎng)發(fā)射電子槍

加速電壓:40–300 kV

TEM線(xiàn)分辨率:≤50pm(300 kV)

STEM分辨率:≤53pm(300 kV)

相機(jī):TVIPS XF416相機(jī)

能譜:JED-2300T(158 mm2雙探頭)

應(yīng)用領(lǐng)域

JEM-ARM300F2透射電鏡配備有獨(dú)特雙12極子球差校正器以及自動(dòng)校正軟件使其可以輕松實(shí)現(xiàn)超高原子級(jí)分辨率成像,同時(shí)結(jié)合超大面積雙EDS探頭可實(shí)現(xiàn)高效的元素分析。搭載TVIPS XF416相機(jī),在4k x 4k的全幅分辨率下可以以48 fps的幀速率進(jìn)行實(shí)時(shí)觀(guān)察。

溫馨提示:

1、樣品要求:樣品無(wú)磁性;厚度在50納米以下;樣品要預(yù)先處理表面污染。

2、并非所有樣品都適合球差電鏡并獲得理想的數(shù)據(jù)結(jié)果,建議先在普通透射電鏡上篩選檢查樣品,再與實(shí)驗(yàn)老師探討可行性。

3、目前開(kāi)放高分辨和原子像拍攝功能。

預(yù)約請(qǐng)登錄:http://facility.whu.edu.cn

地點(diǎn):武漢大學(xué)尖端科技樓101E

聯(lián)系人:吳老師 18163510103